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KONFOKALE MESSTECHNIK & WEISSLICHTINTERFEROMETRIE

EINFACH. SCHNELL. PRÄZISE.

Sekundenschnell Topografie, Rauheit, Geometrie und Schichtdicke im Mikro- und Sub-Nanometerbereich erfassen

Mit unterschiedlichen optischen Sensoren erfassen unsere Systeme schnell und zuverlässig die Oberfläche. Die robuste Sensorik arbeitet sowohl auf transparenten und metallischen als auch auf rauen und polierten Oberflächen sicher.

  • Keine Probenvorbereitung
  • schnelle Datenaufnahme
  • Höhenauflösung bis in den Sub-Nanometerbereich
  • DIN und ISO konforme Auswertungen
  • Robust und hochpräzise
  • Berührungslos und zerstörungsfrei
  • Echte 3D-Daten
  • Unabhängig von Materialeigenschaften wie Farbe, Glanz oder Härte

 

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MarSurf-3D-Sensor-HGgrey

ÜBER OPTISCHE 3D-OBERFLÄCHENMESSTECHNIK

Schnell und einfach messen

Schnell und einfach messen

Die bewährte Technologie unserer Konfokalmikroskope und Interferometer liefert Ihnen binnen Sekunden hochaufgelöste 3D-Daten von Ihrer Werkstückoberfläche. Weil Sie die Probe nicht aufbereiten müssen und sich die Geräte einfach bedienen lassen, sparen Sie weitere wertvolle Minuten. Der Messvorgang und die Messdatenauswertung sind automatisierbar, um eine problemlose Integration in Ihre Produktionsumgebung zu gewährleisten.

berühungslos messen

Berührungslos messen

Die optische Messung garantiert die zerstörungsfreie Prüfung aller Oberflächen – unabhängig von Eigenschaften wie Farbe, Glanz oder Härte. Auch bei hohen Messgeschwindigkeiten liefern die Messmikroskope und Weißlichtinterferometer hochwertige Messdaten zur profiltreuen Wiedergabe feinster Rauheitsstrukturen oder Mikrogeometrien. Durch die berührungslosen Messverfahren ist die Sensorik verschleißfrei.

Dreidimensionalauswerten

Dreidimensional auswerten

Ob Konfokalmikroskop oder Weißlichtinterferometer: die Ergebnisse aller Messungen liegen als echte Höhenkoordinaten (x, y, z) vor. Mit ihnen lassen sich neben 2D- und 3D-Rauheitswerten unter anderem auch Ebenheit, Volumen, Schichtdicke, Form oder Kontur ermitteln. Die Auswertung von Profil- und Flächendaten erfolgt konform mit internationalen Normen – beispielsweise nach DIN EN ISO 25178.

DAS PORTFOLIO VON MAHR

 

Konfokalmikroskope und optische Profilometer:
Die Serien MarSurf CM und MarSurf CP/CL

 
MarSurf--CM_mobile--BI--frontside--800x600--72dpi MarSurf--BI--CM_expert--800x600--72dpi MarSurf--CL_select--BI--800x600--72dpi
 MarSurf CM mobile – Überall einsatzbereit

 MarSurf CM explorer – Der flexible Allrounder

 MarSurf CP/CL select – Optische 2D/3D-Profilometrie

ZU DEN PRODUKTEN »
 
 
 
Weißlichtinterferometer für extrem glatte Oberflächen:
Serie MarSurf WI
 

MarSurf--WI_50M--BI--vorn_links--318x240--72dpi

MarSurf--WI_50--BI--vorn_links--318x240--72dpi

MarSurf--WI_100--BI--vorn_links--318x240--72dpi

 MarSurf WI 50 M – Die manuelle Einstiegslösung MarSurf WI 50 – Hochpräzise für Forschung & Qualitätsmanagement

 MarSurf WI 100 – Automatisierbares Profi-Gerät für große Werkstücke

ZU DEN PRODUKTEN »

 

 

JETZT DEMO-TERMIN VEREINBAREN

Gerne zeigen wir Ihnen die Möglichkeiten unserer optische 3D-Oberflächenmesstechnik – per Online-Demo, live bei Ihnen vor Ort oder in einer unserer Niederlassungen. Auf Wunsch stellen wir Ihnen Messung und Auswertung anhand Ihres eigenen Werkstücks vor. Selbstverständlich kostenlos und unverbindlich!

So geht's:

1. Melden Sie sich über unser Kontaktformular für einen Demo-Termin an.

2. Wir melden uns telefonisch, um mit Ihnen über Ihre Messaufgabe zu sprechen und den konkreten Termin zu vereinbaren.

3. Zum Demo-Termin treffen Sie sich mit unserem Experten – online oder live. In rund 60 Minuten  erfahren Sie, wie unsere optischen 3D-Messsysteme arbeiten und wie Sie die Messdaten auswerten – wenn Sie mögen an einem Ihrer eigenen Werkstücke.